عنوان : ( بررسی خواص دیالکتریکی سرامیک باریم کلسیم تیتانات )
نویسندگان: ریحانه شجاعی , احمد کمپانی , علی خرسند زاک , غلامحسین خرمّی ,
Full Textچکیده
بر روی خواص الکتریکی سرامیکهای باریم تیتانات مطالعه شده x= در این پژوهش اثر مواد افزودنی اکسید کلسیم با درصد وزنی 0.5 است. نمونهها به روش مخلوط اکسیدی در دمای 1000 در سانتی گراد کلسینه و پس از قالب زدن در دمای 1250 درجه سانتی گراد تفجوشی شدند. پس ازصیقل کاری و الکترود گذاری نمونه ها، ثابت دیالکتریک آنها تحت اعمال فرکانسهای مختلف از ( 100 هرتز تا10 مگا هرتز ) اندازه گیری شده است.
کلمات کلیدی
, باریم کلسیم تیتانات, مخلوط اکسیدی, SEM , XRD
@inproceedings{paperid:1036744,
author = {شجاعی, ریحانه and کمپانی, احمد and علی خرسند زاک and خرمّی, غلامحسین},
title = {بررسی خواص دیالکتریکی سرامیک باریم کلسیم تیتانات},
booktitle = {کنفرانس فیزیک ایران1392},
year = {2013},
location = {بیرجند, ايران},
keywords = {باریم کلسیم تیتانات، مخلوط اکسیدی، SEM ، XRD},
}
%0 Conference Proceedings
%T بررسی خواص دیالکتریکی سرامیک باریم کلسیم تیتانات
%A شجاعی, ریحانه
%A کمپانی, احمد
%A علی خرسند زاک
%A خرمّی, غلامحسین
%J کنفرانس فیزیک ایران1392
%D 2013
