همایش ملی مهندسی مکانیک , 2013-05-30

عنوان : ( بررسی ناپایداری کشیدگی درون در نانو/میکروتیرهای دوسرگیردار تحت تاثیر نیروهای الکترواستاتیک و بین مولکولی )

نویسندگان: حمید غضنفر , مسعود طهانی ,

بر اساس تصمیم نویسنده مقاله دسترسی به متن کامل برای اعضای غیر دانشگاه ممکن نیست

استناددهی: BibTeX | EndNote

چکیده

در این مقاله اثرات لبه در سیستمهای میکروالکترومکانیک با استفاده از روش تربیعات تفاضلی با درنظر گرفتن میروی کاسمیر مورد بررسی قرار گرفت.

کلمات کلیدی

, سیستمهای میکروالکترومکانیکی, روش تربیعات تفاضلی, نیروی کاسمیر, ولتاژ کشیدگی درون, اثرات لبه