کنفرانس فیزیک ایران1392 , 2013-08-26

عنوان : ( بررسی خواص دیالکتریکی سرامیک باریم کلسیم تیتانات )

نویسندگان: ریحانه شجاعی , احمد کمپانی , علی خرسند زاک , غلامحسین خرمّی ,
فایل: Full Text

استناددهی: BibTeX | EndNote

چکیده

بر روی خواص الکتریکی سرامیکهای باریم تیتانات مطالعه شده x= در این پژوهش اثر مواد افزودنی اکسید کلسیم با درصد وزنی 0.5 است. نمونهها به روش مخلوط اکسیدی در دمای 1000 در سانتی گراد کلسینه و پس از قالب زدن در دمای 1250 درجه سانتی گراد تفجوشی شدند. پس ازصیقل کاری و الکترود گذاری نمونه ها، ثابت دیالکتریک آنها تحت اعمال فرکانسهای مختلف از ( 100 هرتز تا10 مگا هرتز ) اندازه گیری شده است.

کلمات کلیدی

, باریم کلسیم تیتانات, مخلوط اکسیدی, SEM ,
برای دانلود از شناسه و رمز عبور پرتال پویا استفاده کنید.

@inproceedings{paperid:1036744,
author = {شجاعی, ریحانه and کمپانی, احمد and علی خرسند زاک and خرمّی, غلامحسین},
title = {بررسی خواص دیالکتریکی سرامیک باریم کلسیم تیتانات},
booktitle = {کنفرانس فیزیک ایران1392},
year = {2013},
location = {بیرجند, ايران},
keywords = {باریم کلسیم تیتانات، مخلوط اکسیدی، SEM ، XRD},
}

[Download]

%0 Conference Proceedings
%T بررسی خواص دیالکتریکی سرامیک باریم کلسیم تیتانات
%A شجاعی, ریحانه
%A کمپانی, احمد
%A علی خرسند زاک
%A خرمّی, غلامحسین
%J کنفرانس فیزیک ایران1392
%D 2013

[Download]