بازگشت به فرم جستجو »

نمایش نتایج جستجو برای

کلمات کلیدی: ATOMIC FORCE MICROSCOPE

---

موارد یافت شده: 1

1 - Frequency Analysis of Atomic Force Microscopy Cantilevers in a Dynamic Mode Considering Tip Mass and Moment of Inertia (چکیده)