تکنولوژی‌های اندازه‌گیری با دقت و حساسیت بالا، به شدت نیاز به ایزولاسیون ارتعاشی به منظور بدست‌آوردن نتایج و جواب‌های دقیق دارند. این موضوع در کاربردهای صنعتی گوناگون از قبیل ساخت و تست نیمه هادی‌ها (wafer) در ابعاد نانو، در زمینه‌های بیولوژی سلولی و در بررسی‌های ساختار ملکولی مواد با استفاده از میکروسوپ‌های الکترونی (SEM)، از اهمیت ویژه‌ای برخوردار می‌باشد. کارایی و عملکرد تمام این موارد توسط ارتعاشات مکانیکی تحت تاثیر قرار می‌گیرد. پایه‌های ارتعاشی غیرفعال در بسیاری از موارد برای نگهداری تجهیزات و به منظور حفاظت آن از ارتعاشات ناخواسته استفاده می‌گردند. در این مقاله به ایزولاسیون فعال تجهیزات حساس ارتعاشی پرداخته می‌شود. کنترل فعالی را که با استفاده از معیارهای کنترل و توسط Particle Swarm Optimization (PSO)، پیشنهاد شده‌است، ارائه و کاربرد آن در ایزولاسیون یک میکروسکوپ اتمی بررسی می‌گردد. کنترلر مورد استفاده به صورت فیدبک ثابت خروجی اعمال و سپس بهینه‌سازی مورد نیاز برای بهینه کردن پاسخ فرکانسی سیستم، با استفاده از الگوریتم PSO انجام و درخاتمه نتایج حاصل از این شبیه‌سازی‌ها ارائه گردیده است

کلمات کلیدی